晶閘管長基區(qū)少子壽命測試儀DBC-352 技術資料

發(fā)布時間：2024-03-06

晶閘管長基區(qū)少子壽命測試儀
1概述
本儀器是晶閘管和整流管少子壽命的測試設備。適用于各種反向阻斷型晶閘管、逆導晶閘管、雙向晶閘管及各種整流管的參數(shù)測試。本測試儀設計先進，結構合理，并具有數(shù)字顯示，直接讀取少子壽命值，自動測試，操作簡便等特點。其技術指標符合gb4024-83標準的規(guī)定。是電力半導體器件生產(chǎn)廠zui為理想的檢測設備。
2技術參數(shù)
2.1觸發(fā)電流范圍：0—500ma
2.2少子壽命測量范圍：0.1—99μs
2.3測試分辨率：0.1µs
2.4重復測試頻率：1hz
2.5工作條件
電源:ac220v±10%50hz
溫度：0—40℃
2.6整機功耗：小于50va
2.7整機重量：約10kg
2.8整機尺寸：440×150×440mm