a.低頻法測試原理
iec60044-6標準（對應國家標準 gb16847-1977）聲稱，ct的測試可以在比額定頻率低的情況下進行，避免繞組和二次端子承受不能容許的電壓。
ct伏安特性測量的原理電路如下圖：ct一次側(cè)開路，從二次側(cè)施加電壓，測量所加電壓 v 與輸入電流 i 的關系曲線。此曲線近似 ct 的勵磁電勢 e 與勵磁電流 i 的關系曲線。
設 ct勵磁繞組在某一勵磁電流 i 時的激磁電感為 l，激磁阻抗為 z，則：
v = i·z
電感 l與阻抗 z之間具有下述關系：
z = ω·l = 2πfl
則：v= i·2πfl
由公式中可見在某一激磁電感l(wèi)時所加電壓v與頻率 f 成正比關系。
假設當 f = 50hz時，為達到勵磁電流 ix，所需施加的電壓 vx為 2000v
vx = ix·2 π f l = 2000v，
若施加不同頻率：
f = 50hz，vx ＝ 2000v
f = 5hz， vx ≌ 200v
f = 0.5hz，vx ≌ 20v
由此可見需要使 ct進入相同飽和程度，施加較低頻率信號所需電壓可以大幅度降低這就是變頻法的基本原理。
在此必須嚴格注意，所需電壓并非與頻率呈線性比例關系，并非隨著頻率等比例降低，需要嚴格按照互感器的精確數(shù)學模型進行完整的理論計算。