壓力噴霧干燥設(shè)備中顆粒粒度的測量

發(fā)布時間:2024-07-29
(1)篩分法:將被測樣品經(jīng)過不同大小孔徑的篩網(wǎng)過篩;然后,再稱量獲取粒子大小及質(zhì)量分布。這種方法簡單,但準(zhǔn)確性差,且較為耗時。
(2)顯微鏡法:顯微鏡法是一種較為直接的測量。光學(xué)顯微鏡法是通過人眼直接觀察,人為因素引起的誤差較大;電子顯微鏡法師通過電子掃描,獲取圖像,結(jié)合圖像分析工藝進(jìn)行測量。它減少了人為觀測誤差,但制樣要求高、操作復(fù)雜且設(shè)備昂貴。
(3)沉降法:用沉降法測定壓力噴霧干燥設(shè)備中顆粒時,細(xì)粉的沉降速度很慢,測定需要很長時間。同時,由于環(huán)境溫度的影響,超細(xì)顆粒的布朗運(yùn)動以及再凝聚等原因,得不到較高的測量精度。
(4)庫爾特法:庫爾特法不受顆粒材質(zhì)、結(jié)構(gòu)形貌、折射率以及光學(xué)特性的影響,基本適用于大多類型的顆粒測量。
(5)光散射法:激光測量法以其快捷、準(zhǔn)確、便利以及對樣品的非接觸的優(yōu)點(diǎn)受到重視,得以推廣應(yīng)用。它可以分為兩類:時域平均光散射法和動態(tài)光散射法。
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