《導(dǎo)電陽極絲熱成像輔助定位失效分析方法》發(fā)布

發(fā)布時(shí)間:2024-04-13
近日,深南電路股份有限公司、南通深南電路有限公司、無錫深南電路有限公司、工業(yè)和信息化部電子第五研究所、深圳市美信檢測技術(shù)股份有限公司等單位發(fā)布了《t/cstm 01024—2023 導(dǎo)電陽極絲熱成像輔助定位失效分析方法》,實(shí)施日期2023年9月21日。
本文件參照 gb/t1.1—2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第 1 部分:標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》,gb/t 20001.4—2015《標(biāo)準(zhǔn)編寫規(guī)則 第 4 部分:試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)》的規(guī)定起草。
本文件規(guī)定了導(dǎo)電陽極絲熱成像輔助定位失效分析方法的原理、試驗(yàn)條件、儀器設(shè)備、試劑和材料、樣品、試驗(yàn)步驟以及試驗(yàn)報(bào)告的要求。本文件適用于導(dǎo)電陽極絲試驗(yàn)過程中/后絕緣阻值低于108ω的印制板。
原理:
caf 失效導(dǎo)致絕緣電阻降低,通電時(shí)會因?yàn)榘l(fā)熱產(chǎn)生微弱的紅外能量,高靈敏度的紅外探測器能夠捕捉熱源產(chǎn)生的位置,精確定位故障。紅外系統(tǒng)結(jié)合鎖相技術(shù)硬件和軟件特殊算法,通過給樣品連接脈沖電源,提供周期性的熱激勵(lì)源,若樣品存在缺陷,缺陷處的熱量會被周期性的傳導(dǎo)到樣品表面,樣品表面溫度分布將發(fā)生周期性變化,結(jié)合算法可以檢測到缺陷對應(yīng)于樣品表面的位置。
試驗(yàn)條件:
除另有規(guī)定外,試驗(yàn)應(yīng)在以下條件下進(jìn)行:
a) 環(huán)境溫度:15℃~25℃;
b) 相對濕度:45%~75%;
c) 大氣壓力:86kpa~106kpa。
儀器設(shè)備:
1.熱成像顯微鏡,具體要求如下:
a) 包含兩個(gè)探針座的探針臺,加熱臺溫度可達(dá) 50℃;
b)直流電源,可獨(dú)立調(diào)整電流和電壓,測試電壓最小值為 0.1vdc,限流最小值為 1μa;
c)探測器,靈敏度至少達(dá)到 25mk@25℃;
d) 分析軟件具有鎖相熱成像(lock-in)功能;
e)電源方波頻率可設(shè)置 15hz 以下。
2.電烙鐵,可加熱至 450℃。
3.金相濕磨/拋光系統(tǒng)或設(shè)備。
4.金相顯微鏡。
5.電子掃描顯微鏡,含有背散射探頭。
6.能譜儀(energy dispersive spectrometer, eds)。
試劑和材料:
1.牌號為 sn63/pb37 的焊錫絲。
2.帶有絕緣層的銅導(dǎo)線。
3.導(dǎo)熱雙面膠。
4.水晶膠。
試驗(yàn)報(bào)告:
試驗(yàn)報(bào)告應(yīng)包括但不限于下列內(nèi)容:
a)失效分析環(huán)境:環(huán)境溫度、相對濕度、大氣壓力;
b)樣品信息:包含但不限于材料型號和絕緣間距;
c)儀器設(shè)備:包含但不限于分析設(shè)備品牌和型號;
d)測試信息:包含但不限于測試電壓、限流和電源方波設(shè)置頻率;
e)分析結(jié)果:包含但不限于紅外熱點(diǎn)與樣品外觀疊加圖和切片分析圖(注:當(dāng)做了元素成分分析時(shí),需要將成分分析結(jié)果同步附上);
f)試驗(yàn)人員和試驗(yàn)日期。
更多詳情請見附件。
相關(guān)資料下載: 《導(dǎo)電陽極絲熱成像輔助定位失效分析方法》.pdf
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