ae-mic/AE-162D 用于超高速芯片電阻測試特征?

發(fā)布時間:2024-04-09
ae-162d 用于超高速芯片電阻測試
非常適合 d、f、g、j、k 級、片式、melf、
徑向和軸向電阻器的分選機(jī)和編帶機(jī)。
由于模擬部分與數(shù)字部分的隔離提高了抗噪性,因此穩(wěn)定性高
兼容極小芯片(低功耗測量)
超高速0.7msec.(典型值)
熱電動勢抵消測量帶來高精度和穩(wěn)定性
通過每個量程的測量值積分時間設(shè)置功能,實(shí)現(xiàn)超高速和高穩(wěn)定性測量。
%測量:±99.99% [5mω ~ 109mω]
絕對測量:0.00mω~200.00mω
接觸檢查:測量前/測量后/關(guān)閉可選
rs-232c接口標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備(gp-ib可選)
打印機(jī)輸出標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備(centronics兼容)
標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置值傳輸功能:(相同的設(shè)置數(shù)據(jù)可以傳輸?shù)搅硪慌_ae-162d以進(jìn)行自動設(shè)置。)
標(biāo)準(zhǔn)配備測量電流/測量電壓異常檢查電路
測量范圍和基本精度(環(huán)境溫度23℃±5℃),校準(zhǔn)后180天[校準(zhǔn)后1年:1.5倍]
測量范圍標(biāo)準(zhǔn)值設(shè)定范圍測量電流測量精度*
慢的快速地
100毫歐 5mω~100mω 100毫安 ±0.02%±2a±2d以內(nèi) ±0.03%±3a±2d±[2/(1+n)]d以內(nèi)
1ω 100.1mω~1ω 100毫安 ±0.02%±a±1d以內(nèi) ±0.02%±a±2d±[2/(1+n)]d以內(nèi)
10ω 1.001ω~10ω 50毫安
100ω 10.01ω~100ω 10毫安 ±0.02%±1d以內(nèi) ±0.02%±2d±[1/(1+n)]d以內(nèi)
1kω 100.1ω~1kω 5毫安
10kω 1.001kω~10kω 0.5毫安
100kω 10.01kω~100kω 50μa
1兆歐 100.1kω~1mω 5μa ±0.05%±2d±[1/(1+n)]d以內(nèi)
10兆歐 1.001mω~10mω 0.5μa ±0.03%±1d以內(nèi) ±0.2%±4d±[1/(1+n)]d以內(nèi)
100兆歐 10.01mω~109mω 0.05μa ±0.1%±2d以內(nèi) ────
* d = 位數(shù),n = 積分時間(毫秒),% 測量:α =(100/標(biāo)準(zhǔn)設(shè)定值 mω)x 0.01%,絕對值測量:α = 0(加上 ±1d) *屏蔽時的完整精度
測量時間外部啟動自由奔跑
慢的 快速地 慢的 快速地
約18毫秒~400毫秒 約0.7毫秒~400毫秒 約30次/秒~約2次/秒 約 60 次/秒至約 2 次/秒
測量端子開路電壓15v以下
測量結(jié)束信號(eoc)脈沖寬度1~250msec.可連續(xù)設(shè)定
測量方法4端測量/2端測量可切換
判斷值設(shè)定范圍%測量:±99.99%,絕對值測量:00000至20000
周邊環(huán)境溫度:0°c 至 +50°c,濕度:80% 或更低
所需電源ac85v至265v,50hz至60hz,約50va
外形尺寸333(寬)×99(高)×300(深)mm(不包括橡膠腳等突出物)
重量約3.5公斤
選項(xiàng)?gp-ib
?數(shù)據(jù)傳輸線
?短路端接(零歐姆標(biāo)準(zhǔn)電阻)
?轉(zhuǎn)換適配器(3p×2?5p)
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