光譜式測量為ccfl、led背光lcd及oled等平板顯示技術(shù)提供了zui高精度的亮度、色度測量?，F(xiàn)有的光譜式測量的主要不足是需要很長的測試時間。photo research的a-takt™系列光譜式輻射度計彌補了這一不足，實現(xiàn)了光譜式精度的實時產(chǎn)線測試。
a-takt™系列包含三款——v-7hs、v-7wd和v-6aql，針對fpd產(chǎn)線測試不同測試應(yīng)用。具有如下總的特點：
特點 優(yōu)勢
采用制冷型ccd探測器 有效抑制暗噪聲及雜散光；可調(diào)取、使用測試對象的圖像，不需通過目鏡觀測；保持產(chǎn)線測試環(huán)境中的測試穩(wěn)定性
高靈敏度，高速 快速測試弱光信號
多孔徑光闌可選（1.0°，1.25°，1.50°，0.50°）；可定制 多種亮度測試動態(tài)范圍可選，滿足不同光斑尺寸等測試需求
多光譜帶寬可選（2，5，8nm） 針對不同帶寬光源具有更好的度
物鏡（定焦50mm到變焦75mm的鏡頭可供選擇）；可定制 方便滿足客戶不同工作距離、光斑尺寸等測試需求
“easyprofile”技術(shù) 針對不同測試對象的自分析技術(shù)，使設(shè)備在確保科學(xué)級的準(zhǔn)確性和度前提下實現(xiàn)zui快測試速度
易于開發(fā)的sdk軟件包；可定制 與產(chǎn)線測試需求實現(xiàn)*化的整合
rs232和usb接口以及加固的附件； 增加儀器在惡劣環(huán)境中的使用安全
自帶1/4-20 sae螺紋孔 便于安裝、固定
1、v-7hs是三者中靈敏度zui高、測試速度zui快的機型，可在不影響測試度和重復(fù)測試精度的前提下，zui短時間內(nèi)實現(xiàn)zui大數(shù)量的產(chǎn)品測試——毫秒時間內(nèi)實現(xiàn)低亮度測試，在僅250ms的測試時間內(nèi)實現(xiàn)0.5cd/m2的微弱亮度測試（測試led背光lcd）；幾秒鐘內(nèi)實現(xiàn)完整的灰度等級、gamma和色度測試（取決于亮度等級和測試數(shù)量）等。
v-7hs：高精度，快速測量，針對于低亮測試應(yīng)用
2、v-7wd則提供了高速測量的解決方案，針對高亮背光模組、led模組等高度和重復(fù)精度的*化測試。具備更寬的亮度測試范圍：0.002-60000 cd/m2（如測試白光led），近乎實時的快速、高、高重復(fù)性光譜輻射度計。
v-7wd：快速，高光譜分辨率，適用于高亮發(fā)光源測試
3、而v-6aql則專為簡潔的工業(yè)檢測量身定制，針對關(guān)鍵環(huán)節(jié)的測量，如aql、iqc及oqc等提供的解決方案。一方面具有更低成本，另一方面光譜式設(shè)計保證度和重復(fù)精度，滿足或優(yōu)于客戶的生產(chǎn)需求。
v-6aql：經(jīng)濟、便攜的解決方案，適用于qc/qa測試
4、靈活的定制——由于產(chǎn)線測試環(huán)境的不同（如工作距離、測試區(qū)域和系統(tǒng)控制接口等），如上述表格，a-takt™系列提供有不同配置，包括鏡頭的定制（滿足不同工作距離、光斑尺寸的測試需求），易于開發(fā)的sdk包以更快捷、輕松集成到用戶的ate系統(tǒng)， 針對不同測試對象的“easyprofile”自分析技術(shù)等。
規(guī)格參數(shù) v-7hs v-7wd v-6aql
探測器 512 512 128
制冷探測器 是 是 否
標(biāo)準(zhǔn)孔徑 1.25° 2.0° 1.0°
物鏡 定焦：50mm；
變焦：75mm（定制）
光譜帶寬 2nm 8nm 8nm
亮度范圍
（白光led測試） 0.001-600 cd/m2 0.002-60000 cd/m2 0.6-80000 cd/m2
測試時間
（白光led） 250ms@0.5cd/m2 60ms@10,000cd/m2 70ms@10,000cd/m2
測試時間
（標(biāo)準(zhǔn)a光源） 450ms@0.5cd/m2 75ms@10,000cd/m2 86ms@10,000cd/m2
亮度度
（標(biāo)準(zhǔn)a光源） ±2%@0.005 cd/m2 ±2%@0.01 cd/m2 ±2%@0.5 cd/m2
亮度范圍
（標(biāo)準(zhǔn)a光源） 0.0005-2,900 cd/m2 0.001-30,000 cd/m2 0.3-40,000 cd/m2
尺寸（mm） 270×170×188 270×170×188 192×170×117
重量（kg） 4.33 4.33 2.14