dedina曾對氫化物-原子吸收法中的干擾做了系統(tǒng)的分類，并指出，液相干擾產(chǎn)生在氫化物形成或形成的氫化物從樣品溶液中逸出的過程中，是由于氫化物發(fā)生速度的改變（發(fā)生動力學(xué)干擾）或者是由于發(fā)生效率的改變，即轉(zhuǎn)化為氫化物的百分比的改變而引起的。
氣相干擾一般在氫化物傳輸過程中或在原子化器中產(chǎn)生，因為又可分為傳輸過程干擾和原子化器中的干擾。
傳輸過程中的干擾發(fā)生在氫化物從樣品溶液到原子化器的途中，包括待測元素氫化物的傳輸速度（傳輸動力學(xué)干擾）和損失（傳輸效率干擾）所引起的干擾。
原子化器中的干擾包括自由基（主要是氫基）數(shù)量及待測元素原子的衰減所引起的干擾，其中產(chǎn)生自由基干擾的原因是干擾元素爭奪自由基使其不夠用來使待測元素原子化，產(chǎn)生待測元素衰減的原因是干擾元素加速了光路中游離的待測元素原子的衰減。
所謂“記憶性”干擾系指某種元素在造成前一次氣相干擾之后，即使在以后的試液中不含該元素，干擾也繼續(xù)存在，此即所謂“記憶”效應(yīng)。dedina提出的氫化物法干擾是目前較為系統(tǒng)和細(xì)致的分離，這種分類方法原則上也適用于氫化物發(fā)生—原子熒光光譜法。