dedina曾對(duì)氫化物-原子吸收法中的干擾做了系統(tǒng)的分類，并指出，液相干擾產(chǎn)生在氫化物形成或形成的氫化物從樣品溶液中逸出的過(guò)程中，是由于氫化物發(fā)生速度的改變（發(fā)生動(dòng)力學(xué)干擾）或者是由于發(fā)生效率的改變，即轉(zhuǎn)化為氫化物的百分比的改變而引起的。
氣相干擾一般在氫化物傳輸過(guò)程中或在原子化器中產(chǎn)生，因?yàn)橛挚煞譃閭鬏斶^(guò)程干擾和原子化器中的干擾。
傳輸過(guò)程中的干擾發(fā)生在氫化物從樣品溶液到原子化器的途中，包括待測(cè)元素氫化物的傳輸速度（傳輸動(dòng)力學(xué)干擾）和損失（傳輸效率干擾）所引起的干擾。
原子化器中的干擾包括自由基（主要是氫基）數(shù)量及待測(cè)元素原子的衰減所引起的干擾，其中產(chǎn)生自由基干擾的原因是干擾元素爭(zhēng)奪自由基使其不夠用來(lái)使待測(cè)元素原子化，產(chǎn)生待測(cè)元素衰減的原因是干擾元素加速了光路中游離的待測(cè)元素原子的衰減。
所謂“記憶性”干擾系指某種元素在造成前一次氣相干擾之后，即使在以后的試液中不含該元素，干擾也繼續(xù)存在，此即所謂“記憶”效應(yīng)。dedina提出的氫化物法干擾是目前較為系統(tǒng)和細(xì)致的分離，這種分類方法原則上也適用于氫化物發(fā)生—原子熒光光譜法。