長霉對產(chǎn)品的影響主要有以下三個方面：
原發(fā)性影響：霉菌即使對材料只發(fā)生輕微的損害，絕緣材料表面由于濕潤的菌絲層形成導(dǎo)電通路而大幅度降低絕緣電阻，嚴(yán)重地會引起電路頻率和阻抗特性發(fā)生重大的變化。材料一旦受到霉菌侵蝕會導(dǎo)致機(jī)械強(qiáng)度下降和其他物理性能的變化。
繼發(fā)性影響：霉菌在材料上生長，能夠產(chǎn)生有機(jī)酸和其他電解質(zhì)等代謝產(chǎn)物，而對材料產(chǎn)生繼發(fā)性影響。這種侵蝕會導(dǎo)致材料電解和老化。又因菌絲體具有吸水作用，形成了飽和的海綿層，即使外界濕度很低，菌絲體仍能在試驗體內(nèi)維持高濕狀態(tài)，導(dǎo)致元件受潮損壞。長霉即有損新產(chǎn)品外觀，又伴有難聞的霉味。
關(guān)聯(lián)性影響：由于現(xiàn)代化設(shè)備的微型結(jié)構(gòu)和相互聯(lián)結(jié)，設(shè)備的一處長霉可能會對不允許長霉的其他元件和微型件產(chǎn)生影響。因此，當(dāng)考慮對單一分組件或元件的直接或間接影響時，必須對整機(jī)性能可能 產(chǎn)生的影響給予評定。
長霉試驗通常限于檢驗是否用了適當(dāng)?shù)脑筒牧?。通過材料元件、零部件或小的組合件等試驗，很容易正確地獲得所需要的許多重要數(shù)據(jù)；長霉試驗是對試驗新產(chǎn)品準(zhǔn)備運(yùn)行非常有利霉菌生長條件下所作的zui后檢測。通過試驗可以檢測出具有良好設(shè)計性能的產(chǎn)品發(fā)生任何故障的性質(zhì)。
綜上所述，長霉（霉菌）試驗是鑒定樣品及其材料在有利于霉菌生長的氣候條件下的長霉程度和由于長霉引起的表面變化和性能影響。