電子元器件在出廠前都需要進(jìn)行老化測(cè)試。老化就是藉由讓半導(dǎo)體進(jìn)行超負(fù)荷工作而使缺陷在短時(shí)間內(nèi)出現(xiàn)，避免在使用早期發(fā)生故障。如果不藉由老化，很多半導(dǎo)體成品由于器件和制造制程復(fù)雜性等原因在使用中會(huì)產(chǎn)生很多問(wèn)題。 對(duì)于步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)器老化測(cè)試主要有這幾種方式：
1、驅(qū)動(dòng)器性能測(cè)試：主要集中在驅(qū)動(dòng)器效率、諧波分析、三相不平衡度分析、干擾分析等測(cè)試項(xiàng)目;
2、驅(qū)動(dòng)器響應(yīng)測(cè)試：主要是通過(guò)電機(jī)測(cè)試臺(tái)架，給電機(jī)施加不同的負(fù)載，觀察負(fù)載變化時(shí)電機(jī)驅(qū)動(dòng)器能否根據(jù)算法快速地調(diào)節(jié)電機(jī)的工作狀態(tài)，評(píng)估驅(qū)動(dòng)器的響應(yīng)性能。
3、驅(qū)動(dòng)器老化測(cè)試：主要測(cè)試驅(qū)動(dòng)器抗老化能力。