電解電容壽命的計算方法

發(fā)布時間:2023-08-25

除了非正常的失效,電解電容的壽命與溫度有指數(shù)級的關系。因使用非固態(tài)電解液,電解電容的壽命還取決于電解液的蒸發(fā)速度,由此導致的電氣性能降低。這些參數(shù)包括電容的容值,漏電流和等效串聯(lián)電阻(esr)。
avx代理一般是借助rifa公司預計壽命的公式來計算電解電容的壽命:
ploss = (irms)²x esr (1)
th = ta + ploss x rth  (2)
lop = a x 2  hours?。?)
b = 參考溫度值(典型值為85 ℃)
a = 參考溫度下的電容壽命(根據(jù)電容器直徑的不同而變化)
c = 導致電容壽命減少一半所需的溫升度數(shù)
從上面的公式中,我們可以明顯的看到,影響電解電容壽命的幾個直接因素:紋波電流(irms)和等效串聯(lián)電阻值(esr)、環(huán)境溫度(ta)、從熱點傳遞到周圍環(huán)境的總的熱阻(rth)。電容內(nèi)部溫度最高的點,叫熱點溫度(th)。熱點溫度值是影響電容工作壽命的主要因素。而下列因素又決定了熱點溫度值實際應用中的外界溫度(環(huán)境溫度ta), 從熱點傳遞到周圍環(huán)境的總的熱阻(rth)和由交流電流引起的能量損耗(ploss)。電容的內(nèi)部溫升與能量損耗成線形關系。
電容充放電時,電流在流過電阻時會引起能量損耗,電壓的變化在通過電介質(zhì)時也會引起能量損耗,再加上漏電流造成的能量損耗,所有的這些損耗導致的結果是電容內(nèi)部溫度升高.
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