可靠性試驗方法適用范圍
可靠性增長摸底試驗技術(shù)是根據(jù)可靠性增長理論，利用可靠性試驗的方法，結(jié)合國內(nèi)機載電子產(chǎn)品的可靠性善和型號研制特點為而提出的，可靠性增長摸底試驗的目的包含以下兩點：
1、 利用較短的可靠性試驗時間，將產(chǎn)品的部分設(shè)計、工藝薄弱環(huán)節(jié)和缺陷暴露出來，在可靠性鑒定試驗前采取有效的改進措施，以便在設(shè)計定型 中不出或少出故障，確保其順利通過鑒定試驗，為產(chǎn)品 以后的可靠性工作提供信息;
2、 通過可靠性增長摸底試驗，對產(chǎn)品的可靠性水平作出初步估計，并確定產(chǎn)品內(nèi)部較為薄弱的關(guān)鍵產(chǎn)品，進而選擇需正式進行可靠性增長試驗的產(chǎn)品。
由于機械產(chǎn)品的壽命大多呈威布爾分布，其故障多發(fā)區(qū)一般集中在耗損階段，因此對其安排可靠性增長摸底試驗意義不大，電子產(chǎn)品壽命基本上服從指數(shù)分布，且試驗環(huán)境易于模擬，試驗結(jié)果具有一定的實際意義，而對于部分機電產(chǎn)品，其壽命也服從指數(shù)分布，如果試驗條件允許，也可安排部分可靠性增長摸底試驗，因此，可靠性增長摸底試驗的對象主要是電子及部分機電產(chǎn)品。