x射線熒光光譜儀，專門用于鍍金/鍍錫/鍍鉻/鍍銀/鍍鎳層厚度檢測;其核心部件采用美國進(jìn)口，軟件算法采用xrf前沿技術(shù)，儀器所用標(biāo)準(zhǔn)樣品均有第三方檢測機(jī)構(gòu)報(bào)告;精密度、準(zhǔn)確度、檢出限等技術(shù)參數(shù)全面超過國內(nèi)外同類儀器，特別針對大件異形不平整樣品，無需拆分，直接測試即可達(dá)到精確的測試效果。
1.鍍鎳測厚儀根據(jù)測量原理的分類
(1)磁性測厚法:適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測量.導(dǎo)磁材料一般為:鋼鐵銀鎳.此種方法測量精度高.
(2)渦流測厚法:適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測量.此種方法較磁性測厚法精度高.
(3)超聲波測厚法:適用多層涂鍍層厚度的測量或則是以上兩種方法都無法測量的場合.
(4)電解測厚法:此方法有別于以上三種,不屬于無損檢測,需要破壞涂鍍層.一般精度也不高.測量起來較其他幾種麻煩.
(5)放射測厚法:此種儀器價(jià)格非常昂貴(一般在10萬rmb以上),適用于一些特殊場合.國內(nèi)目前使用普遍的是前兩種方法.
2.影響鍍鎳測厚儀測量精度的原因
(1)覆蓋層厚度大于25µm時(shí),其誤差與覆蓋層厚度近似成正比;
(2)基體金屬的電導(dǎo)率對測量有影響,它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關(guān);
(3)任何一種測厚儀都要求基體金屬有一個(gè)臨界厚度,只有大于這個(gè)厚度,測量才不會受基體金屬厚度的影響;
(4)渦流測厚儀對式樣測定存在邊緣效應(yīng),即對靠近式樣邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處的測量是不可靠的.
(5)試樣的曲率對測量有影響,這種影響將隨曲率半徑的減小明顯地增大;
(6)基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響測量的精度,粗糙度增大,影響增大;
(7)渦流測厚儀對妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感.因此測量前應(yīng)清除測頭 和覆蓋層表面的污物;測量時(shí)應(yīng)使測頭與測試表面保持恒壓垂直接觸。
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