的標準
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本標準等同采用電工委員會標準iec 68-2-32（1975年第二版）《基本環(huán)境試驗規(guī)程 第2部分：試驗方法 試驗ed：自由跌落》、1982年的*次修改和1990年的第二次修改。
這樣，使這項國家標準與標準相同，以適應貿(mào)易、技術和經(jīng)濟交流的需要。
本標準代替gb 2423.8—81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗ed：自由跌落試驗方法》和gb 2424.6—81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 自由跌落試驗導則》。
gb 2423.8—81和gb 2424.6—81是參照iec 68-2-32（1975年第二版）《基本環(huán)境試驗規(guī)程 第2部分：試驗方法 試驗ed：自由跌落》起草的。
本標準在技術內(nèi)容、編寫格式和規(guī)則上都與iec 68-2-32（1975）、1982年的*次修改文本，1990年的第二次修改文本*相同。本標準與前版的主要區(qū)別在于：
──將gb 2423.8和gb 2424.6兩個標準合并成一個標準gb/t 2423.8；
──按iec 68-2-32，1982年和1990年的兩次修改，對方法二和附錄a作了修改，補充了附錄b。
下列四項標準與本標準均屬撞擊試驗范疇，有關規(guī)范應根據(jù)產(chǎn)品的使用和運輸?shù)木唧w情況選擇合適的試驗方法。
──gb/t 2423.5—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗ea和導則：沖擊；
──gb/t 2423.6—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗eb和導則：碰撞；
──gb/t 2423.7—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗ec和導則：傾跌與翻倒（主要用于設備型樣品）；
──gb 2423.39—90 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗ee：彈跳試驗方法。