膜厚儀產(chǎn)品特點(diǎn)
膜厚儀 ，又叫膜厚計(jì)、膜厚測(cè)試儀，分為磁感應(yīng)鍍層測(cè)厚儀，電渦流鍍層測(cè)厚儀，熒光 x 射線儀鍍層測(cè)厚儀。采用磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測(cè)頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。
膜厚測(cè)試儀產(chǎn)品特點(diǎn)：
能夠量測(cè)無鉛焊錫
配備了薄膜 fp 法，可以同時(shí)量測(cè) sn-ag ， sn-bi ， sn-cu 等，無鉛焊錫的鍍層后與成份
搭載中心搜索軟件
通過掃描樣品可以自動(dòng)檢測(cè)出線及基板點(diǎn)面部分的量測(cè)中心位置。
擁有防沖功能
搭載激光對(duì)焦系統(tǒng)
搭載測(cè)試報(bào)告自動(dòng)生成軟件
擁有自動(dòng)量測(cè)軟件以及中心搜索軟件
搭載了薄膜 fp 法軟件
x 射線和紫外線與紅外線一樣是一種電磁波?？梢暪饩€的波長(zhǎng)為 0.000001m(1 μ m) 左右 ,x 射線比其短為 0.m 至 0.m(0.01-100?) 左右。
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