評(píng)估超導(dǎo)限流裝置薄膜的導(dǎo)熱性技術(shù)
為傳熱仿真提供可靠的實(shí)際測(cè)量薄膜熱穿透率為 1770 jm-2s-0.5k-1獲取的值。 這是體透熱率1420~2200 jm-2s-0.5k-1評(píng)估為等效。
模擬熱損傷的超導(dǎo)薄膜樣品的熱滲透性評(píng)估示例國(guó)家先進(jìn)工業(yè)科學(xué)技術(shù)研究所 （aist） 測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)
通過(guò)用加工激光器對(duì)theva制造的ybco薄膜表面施加局部熱損傷來(lái)測(cè)量熱滲透的分布。 在熱損傷區(qū)域確認(rèn)熱滲透率下降（約2%）。 s.池內(nèi)等. j.cryo. soc. jpn 40 335（2005）
評(píng)估涂層在樣品表面的熱滲透性茨城大學(xué)工學(xué)部
可以評(píng)估結(jié)構(gòu)構(gòu)件耐熱涂層的熱滲透率。 硬質(zhì)合金刀具涂層的熱滲透率可以用同樣的方式進(jìn)行評(píng)估。
半導(dǎo)體激光電極熱滲透率分布圖可以掌握薄膜引起的散熱特性變化
我們可視化了由于絕緣層而導(dǎo)致的散熱減少。 通過(guò)熱滲透率的分布圖像一目了然。
設(shè)備介紹
熱物理性能測(cè)量裝置熱波分析儀ta35/33/32/31
樣品形狀具有高自由度，允許您規(guī)定測(cè)量點(diǎn)。 可以測(cè)量從有機(jī)薄膜到鉆石的廣泛范圍的熱擴(kuò)散率（熱導(dǎo)率）。 可以測(cè)量水平和垂直方向，因此您可以檢查樣品的各向異性。
穩(wěn)態(tài)熱導(dǎo)率測(cè)量裝置穩(wěn)態(tài)熱導(dǎo)率測(cè)量裝置
它是一種多功能和高性能的設(shè)備，超越了傳統(tǒng)的“穩(wěn)態(tài)”熱導(dǎo)率測(cè)量設(shè)備。 使用傳統(tǒng)設(shè)備需要數(shù)小時(shí)的測(cè)量時(shí)間減少到10~20分鐘。 此外，還提供兩種測(cè)量模式：“恒定負(fù)載模式”和“恒定厚度模式”，以對(duì)樣品加壓。 它可以應(yīng)用于軟材料，如tim。
纖維取向評(píng)估系統(tǒng)fod的熱評(píng)估
可以掌握碳纖維增強(qiáng)塑料（cfrp），玻璃纖維增強(qiáng)塑料（gfrp），納米纖維素等的內(nèi)部纖維狀態(tài)（纖維取向和纖維量的相對(duì)比較）。 此外，由于它可以量化和量化，因此可用于開(kāi)發(fā)過(guò)程中的評(píng)估和質(zhì)量控制。
熱物理性能顯微鏡熱顯微鏡 tm3
透熱性由點(diǎn)、線和表面測(cè)量?？梢苑墙佑|式測(cè)量“納米薄膜”和“微米區(qū)域”，這是傳統(tǒng)熱物理性能測(cè)量設(shè)備難以實(shí)現(xiàn)的。 此外，對(duì)于熱物理特性的分布測(cè)量，可以進(jìn)行微米量級(jí)的測(cè)量。 測(cè)量目標(biāo)范圍從薄膜到散裝材料。
熱傳播檢測(cè)系統(tǒng)熱成像示波器tsi
針對(duì)電子設(shè)備的功耗問(wèn)題，我們通過(guò)可視化器件內(nèi)部熱特性的相對(duì)數(shù)值來(lái)評(píng)估界面的熱擴(kuò)散率。 配備高性能紅外攝像機(jī)。 降噪技術(shù)。 它可用于評(píng)估裂紋空隙。