手持式礦石分析儀的基本原理及應用領域

發(fā)布時間:2024-04-18
一、基本原理概述
手持式礦石分析儀是一種xrf光譜分析技術,x光管產生的x射線打到被測樣品時可以激發(fā)樣品中對應元素原子的內層電子,并出現殼層空穴,此時原子處于不穩(wěn)定狀態(tài),當外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來填充軌道空穴時,就會產生特征x射線,原子恢復穩(wěn)態(tài)。x射線探測器將樣品元素的x射線的特征譜線的光信號轉換成易于測量的電信號來得到待測元素的特征信息。
二、應用領域
礦石分析儀在地質勘探、礦山測繪、開采、礦石分選、品位鑒定、礦產貿易、金屬冶煉以及環(huán)境監(jiān)測等領域有著廣泛的應用。
——分析礦種:
涵蓋從mg至u之間的金屬、非金屬、貴重金屬和稀有金屬礦等。
——分析樣品:
礦體、礦塊、礦渣、礦粉、粗礦、精礦、尾礦、土壤、泥土、泥漿、灰塵、粉塵、過濾物、薄膜、廢水、廢油、液體樣品
—— 分析元素:
可以分析12號元素mg至92號元素u之間的金屬元素、非金屬元素、貴金屬元素、以及稀有金屬元素等,可根據實際需要選擇分析元素。
——勘查
多元素現場快速分析,可廣泛應用于普查、詳查的各個過程,追蹤礦化異常,擴展勘查范圍??纱蟠鬁p少送回實驗室樣品的數量,從而節(jié)約運輸和分析費用。
——巖芯檢測
快速分析巖芯和和其他鉆探樣品,建立礦山三維圖,分析儲量,可大大提高鉆探現場及時決策效率。
——開采過程控制
礦體邊界圈定,礦脈走向判定,對開采過程進行精確管理和控制,對礦石品位進行隨時檢測。
——品位控制
對精礦、礦渣、礦尾等礦物品位進行精確快速分析,為礦物貿易、加工以及再利用提供價值判斷依據。
——環(huán)境分析
快速對礦石周圍環(huán)境、尾礦、粉塵、土壤污染等進行分析與檢測,評估礦石環(huán)境修復效果。
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