4月19日，廣東省科技發(fā)展專項(xiàng)“基于中國(guó)散裂中子源的大氣中子輻照譜儀實(shí)驗(yàn)平臺(tái)”項(xiàng)目啟動(dòng)會(huì)暨物理設(shè)計(jì)評(píng)審會(huì)在*電子第五研究所召開(kāi)。
散裂中子源工程經(jīng)理、中科院院士陳和生指出，大氣中子輻照譜儀作為中國(guó)散裂中子源啟動(dòng)的臺(tái)新建用戶譜儀，將為新型電子器件和電子系統(tǒng)的大氣中子輻照效應(yīng)提供優(yōu)良的實(shí)驗(yàn)、測(cè)試平臺(tái)，充分發(fā)揮散裂中子源的能力。項(xiàng)目承擔(dān)單位*電子第五研究所副所長(zhǎng)王蘊(yùn)輝、東莞中子科學(xué)中心主任陳延偉分別致辭，表示全力支持項(xiàng)目的建設(shè)。
項(xiàng)目技術(shù)專家組認(rèn)真聽(tīng)取了項(xiàng)目組關(guān)于譜儀物理設(shè)計(jì)的匯報(bào)，經(jīng)過(guò)質(zhì)詢與討論，認(rèn)為：大氣中子輻照譜儀物理設(shè)計(jì)科學(xué)合理，技術(shù)途徑可行。專家組一致同意通過(guò)評(píng)審，開(kāi)展后續(xù)工程設(shè)計(jì)。
宇宙射線在地球大氣層通過(guò)散裂反應(yīng)產(chǎn)生的大氣中子分布于地面和大氣空間，大氣中子可以引發(fā)電子器件的單粒子效應(yīng)等輻射效應(yīng)，造成器件數(shù)據(jù)出錯(cuò)、功能失效甚至燒毀，且隨器件特征尺寸減小、集成密度提高日趨嚴(yán)重，對(duì)電子器件/系統(tǒng)的地面高可靠需求應(yīng)用、航空和臨近空間應(yīng)用產(chǎn)生嚴(yán)重影響。中國(guó)散裂中子源自2012年設(shè)計(jì)并建設(shè)了大氣中子引出通道。
大氣中子輻照譜儀將是國(guó)內(nèi)具有大氣中子能譜特征、覆蓋mev到gev能段的電子器件/系統(tǒng)加速測(cè)試平臺(tái)，“>10mev中子通量”等物理設(shè)計(jì)指標(biāo)達(dá)到水平，將為我國(guó)電子信息產(chǎn)業(yè)的自主可控發(fā)展提供重要的大氣中子輻照效應(yīng)技術(shù)支撐，并促進(jìn)相關(guān)科技產(chǎn)業(yè)的發(fā)展。
編輯點(diǎn)評(píng)
對(duì)于半導(dǎo)體(例如硅)晶體材料的中子輻照，所產(chǎn)生的效果主要是在晶體中通過(guò)彈性碰撞而形成間隙原子和空位等缺陷；所造成的后果，主要是在禁帶*附近產(chǎn)生一個(gè)受主能級(jí)，并從而降低少數(shù)載流子壽命，同時(shí)也將要影響到半導(dǎo)體器件的其他性能(例如穩(wěn)定性、可靠性)。
(原標(biāo)題：“基于中國(guó)散裂中子源的大氣中子輻照譜儀實(shí)驗(yàn)平臺(tái)”項(xiàng)目啟動(dòng))