于2019年10月16日至23日舉行的k 2019期間，sikora(10號(hào)展廳，h21展位)為軟管和管材、板材以及塑料行業(yè)推出了一系列用于質(zhì)量控制和工藝優(yōu)化的廣泛創(chuàng)新系統(tǒng)組合。
觀眾可以攜帶他們的塑料顆粒在科學(xué)測(cè)驗(yàn)系統(tǒng)purity concept v進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試和分析。
在“innovation corner”區(qū)域， sikora也歡迎觀眾就他們關(guān)于軟管、管材測(cè)量技術(shù)以及塑料應(yīng)用提出創(chuàng)意見(jiàn)解。
董事會(huì)的harry prunk 介紹公司在k展的亮點(diǎn)展品
centerwave 6000 —— 用于測(cè)量直徑達(dá)1,600 mm的軟管和管材
centerwave 6000/1600的，意味著sikora推出了一個(gè)全新尺寸的測(cè)量系統(tǒng)。該系統(tǒng)專門(mén)用于擠出過(guò)程中塑料管和管道的質(zhì)量控制。
基于其獨(dú)特設(shè)計(jì)，該系統(tǒng)可測(cè)量直徑為630至1,600 mm的管材。centerwave 6000是基于創(chuàng)新的毫米波技術(shù)，可以連續(xù)、完整、360度地測(cè)量管道周長(zhǎng)、壁厚、直徑、橢圓度、內(nèi)型和下垂度。
該系統(tǒng)可快速實(shí)現(xiàn)標(biāo)稱尺寸、沒(méi)有啟動(dòng)廢料，帶來(lái)高質(zhì)量保證和流程佳控制。此外，不需要任何耦合介質(zhì)，可以且獨(dú)立地測(cè)量，不受外部影響，例如溫度或塑料材料等，并且不需要校準(zhǔn)。
centerwave 6000透過(guò)毫米波技術(shù)測(cè)量大管道
planowave 6000可用于測(cè)量板材擠出厚度
由于sikora的planowave 6000是一種非接觸式測(cè)量系統(tǒng)，因此可用于塑料板材擠出過(guò)程中的無(wú)損厚度測(cè)量。該系統(tǒng)可測(cè)量由工程塑料如pom等和高性能塑料如peek等制成的板材。
planowave 6000還適用于透明和合成塑料的測(cè)量，如pmma和pvc-foam，以及玻璃。
該測(cè)量方法基于毫米波技術(shù)，具有極高的測(cè)量精度，不受板材的材料和溫度影響。也不需要對(duì)材料進(jìn)行校準(zhǔn)。
planowave 6000可以在熱或冷的位置直接集成到生產(chǎn)線中。測(cè)量值結(jié)果可在處理器系統(tǒng)ecocontrol 6000的監(jiān)視器上實(shí)時(shí)顯示。
planowave 6000可測(cè)量由技術(shù)塑料如pom等和高性能塑料如peek等制成的板材厚度，以及透明塑料如pmma和pvc-foam，以及玻璃。
purity concept v ：帶有顏色檢測(cè)的光學(xué)實(shí)驗(yàn)室測(cè)試系統(tǒng)
sikora還推出了一種用于塑料材料測(cè)試的光學(xué)實(shí)驗(yàn)室測(cè)試系統(tǒng) —— purity concept v。
該系統(tǒng)是一個(gè)自動(dòng)光桌，塑料顆粒放置在樣品托盤(pán)上，通過(guò)檢查區(qū)域移動(dòng)。數(shù)秒鐘內(nèi)，材料就由一部彩色相機(jī)完成了檢查。
投影儀在樣品盤(pán)上直接用光學(xué)的方法標(biāo)記了所有受污染的顆粒。通過(guò)評(píng)估圖像，可對(duì)50µm大小的透明、漫射和著色材料表面上的污染物，例如黑色斑點(diǎn)等進(jìn)行自動(dòng)檢測(cè)、檢視和數(shù)據(jù)分析，并且可隨時(shí)確定污染分布和進(jìn)行后續(xù)檢查。
光學(xué)實(shí)驗(yàn)室測(cè)試系統(tǒng)的另一個(gè)特色就是自動(dòng)檢測(cè)顆粒的顏色偏差。
purity concept v用于塑料顆粒的光學(xué)樣品測(cè)試，它可以從中檢測(cè)黑色斑點(diǎn)
purity concept v：進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)材料檢測(cè)
“讓技術(shù)變得生動(dòng)起來(lái)”是sikora k展位的核心主題。purity concept v將提供在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下的現(xiàn)場(chǎng)材料測(cè)試服務(wù)。
sikora在展會(huì)前已經(jīng)邀請(qǐng)客戶寄送顆粒樣品，屆時(shí)直接在展位上使用purity concept v進(jìn)行檢測(cè)和分析。又或者，訪客可以攜帶少量塑料顆粒直接到展位進(jìn)行檢測(cè)和評(píng)估。
sikora在k preview中向傳媒展示的purity concept v產(chǎn)品
purity concept x：采用x射線技術(shù)檢測(cè)金屬污染
此外，sikora還展示了基于x射線的實(shí)驗(yàn)室設(shè)備purity concept x，用于檢查彩色顆粒中的金屬混合物，而這些夾雜物在光學(xué)系統(tǒng)中是不可見(jiàn)的。
sikora purity concept x的自動(dòng)化操作原理于2016年就已推出，如今已成為sikora實(shí)驗(yàn)室測(cè)試系統(tǒng)的基礎(chǔ)組成。
由于采用了x射線技術(shù)，該系統(tǒng)還可檢測(cè)顆粒表面和內(nèi)部的污染。據(jù)悉，purity concept x尤其適合黑色和彩色材料的樣品檢測(cè)。此外，還可看到其用于高壓電纜絕緣的半導(dǎo)體材料的應(yīng)用潛能。
另外，金屬污染，例如由擠出機(jī)中的金屬磨損引起的塑料顆粒金屬污染也能夠可靠地被檢測(cè)出來(lái)和實(shí)現(xiàn)全面分析。
基于x射線的purity concept x可離線檢測(cè)出塑料顆粒內(nèi)部的金屬污染物
purity scanner advanced：在線光學(xué)檢測(cè)和分揀
sikora展臺(tái)的另一個(gè)亮點(diǎn)：purity scanner advanced，用于在線光學(xué)檢測(cè)和塑料材料分類(lèi)的系統(tǒng)。
該系統(tǒng)將x射線技術(shù)與多達(dá)四個(gè)黑白和/或彩色相機(jī)相結(jié)合。這種組合可確保檢測(cè)出顆粒內(nèi)部的金屬污染、顏色偏差及表面上的黑色斑點(diǎn)。受污染的顆粒被檢測(cè)到后就會(huì)被自動(dòng)分揀出來(lái)。
憑借強(qiáng)大的處理器系統(tǒng)和智能軟件，purity scanner advanced可謂一款可靠的質(zhì)量檢測(cè)設(shè)備。
專業(yè)數(shù)據(jù)分析管理(pdam)按生產(chǎn)過(guò)程中污染物的尺寸和頻率分類(lèi)，以及結(jié)合光學(xué)相機(jī)和x射線照相機(jī)檢測(cè)到的顆粒圖像庫(kù)，對(duì)檢測(cè)到的污染物進(jìn)行統(tǒng)計(jì)評(píng)估。
而對(duì)于高物料吞吐量，該分揀系統(tǒng)可用作“twin pack”解決方案提供，該解決方案也將在k2019上展示。
twin pack系統(tǒng)特別適用于光學(xué)分揀和應(yīng)用，其重點(diǎn)是更高的吞吐量。twin pack的吞吐量可達(dá)到每小時(shí)2噸
“innovation corner”客戶互動(dòng)交流 ——碰撞出未來(lái)創(chuàng)新測(cè)量技術(shù)
sikora致力于將創(chuàng)意轉(zhuǎn)化為實(shí)實(shí)在在的創(chuàng)新和新產(chǎn)品開(kāi)發(fā)，從而為軟管和管材、板材以及塑料行業(yè)提供高質(zhì)量的產(chǎn)品、實(shí)現(xiàn)工藝優(yōu)化和成本效益。
sikora在k2019上透過(guò) “創(chuàng)意角”(innovation corner)強(qiáng)調(diào)了這一點(diǎn)。該公司邀請(qǐng)客戶親自與sikora研究和開(kāi)發(fā)專家一起，透過(guò)創(chuàng)意分享和頭腦風(fēng)暴，討論他們對(duì)測(cè)量技術(shù)未來(lái)質(zhì)量控制系統(tǒng)的見(jiàn)解、需求和技術(shù)要求。