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gb/t 5170.8-2008標準介紹
gb/t 5170.8-2008替代原先gb/t 5170.8-1996所使用，本標準規(guī)定了鹽霧試驗設(shè)備的檢定項目、檢定用儀器、測量點的位置與數(shù)量、檢定步驟和檢定數(shù)據(jù)的處理與檢定結(jié)果。
本標準適用于對gb/t 2423.17《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗ka:鹽霧試驗方法》和gb 2423.18《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗kb:交變鹽霧試驗方法(氯化鈉溶液)》所用鹽霧試驗設(shè)備的周期檢定。
本標準也適用于類似設(shè)備的周期檢定。
gb/t 5170目前包含以下凡部分：
-gb/t5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則
-gb/t 5170.2--2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備
-gb/t5170.5- 2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法濕熱試驗設(shè)備
-gb/t 5170. 8-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 鹽霧試驗設(shè)備
-gb/t 5170. 9-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 太陽輻射試驗設(shè)備
-gb/t5170. io-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備
-gb/t5170. 11-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 腐蝕氣體試驗設(shè)備
-gb/t 5170. 13 - 2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(正弦)試驗用機械振動臺
-gb/t 5170. 14-1985 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(正弦)試驗用電動振動臺
-gb/t5170. 10-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(正弦)試驗用液壓振動臺
-gb/t5170.16-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 穩(wěn)態(tài)加速度試驗用離心機
-gb/t 5170. 17-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 低溫/低氣壓/濕熱綜臺順序試驗設(shè)備
-gb/t 5170.18-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/濕度組臺循環(huán)試驗設(shè)備
-gb/t 5170,.19-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基率參數(shù)檢定方法溫度/振動(正弦)綜合試驗設(shè)備
-一gb/t 5170.20--2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 水試驗設(shè)備
本部分是gb/t5170的第8部分。
▼gb/t 5170.8-2008第三方檢測機構(gòu)
gb/t 5170.8-2008pdf資料
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