低電壓并聯(lián)電容器放電試驗(yàn)方法有哪些？
以直流電將單元充電到2un，然后通過(guò)一個(gè)盡可能靠近單元的間隙進(jìn)行放電，此試驗(yàn)應(yīng)在10min內(nèi)作完5次。
在此試驗(yàn)后的5min內(nèi)，單元應(yīng)進(jìn)行一次極間耐壓試驗(yàn)。
在放電試驗(yàn)前和極間電壓試驗(yàn)后均應(yīng)測(cè)量電容，兩次測(cè)量值之差應(yīng)小于相當(dāng)于一根熔絲熔斷所引起的變化量或總電容量的2%。
三相單元，僅在兩個(gè)端子之間進(jìn)行。對(duì)內(nèi)部為三角形連接的，應(yīng)將兩個(gè)端子短接。對(duì)內(nèi)部為星形連接的，不需短接端子，但試驗(yàn)電壓必須調(diào)節(jié)到使元件承受的電壓為元件額定電壓的兩倍。