在集成電路設(shè)計與生產(chǎn)過程中，能夠進行準確且高效的開短路測試是十分重要的。因此，一種新的集成電路開短路測試方案應(yīng)運而生。
該方案使用了一種基于區(qū)間電壓比較的測試技術(shù)，利用一種稱之為比例縮放技術(shù)的方法，通過將電子元器件中的電壓及電流值進行比例縮放，將檢測區(qū)間定位在一個合適的數(shù)值范圍內(nèi)，進而提高開短路測試的精度。
該方案的關(guān)鍵是利用比例縮放技術(shù)來實現(xiàn)電路元件測量的精度和穩(wěn)定性的提高。主要步驟為：首先選擇一個比例系數(shù)，對應(yīng)一個測量范圍；然后對待測試的電路進行模擬計算，得到其標準電流和標準電壓；接下來在實際測試過程中，利用比例縮放技術(shù)，將實測電流電壓值除以比例系數(shù)，得到縮放后的值。最后，將縮放后的值與標準電流電壓進行比較，以此判斷開短路的情況。
通過該方案的測試，能夠準確地判斷出電子器件中的開短路，進一步提高生產(chǎn)效率和生產(chǎn)質(zhì)量，確保生產(chǎn)出的集成電路具備良好的性能和穩(wěn)定性，更好地滿足客戶需求。
此外，該方案還可以采用工藝參數(shù)波動分析技術(shù)，根據(jù)工藝差異和誤差來計算出開短路的最小偏移量，從而實現(xiàn)對電路中小型和微型開短路問題的有效檢測和修復(fù)。
總之，該方案的創(chuàng)新點在于采用比例縮放技術(shù)和工藝參數(shù)波動分析技術(shù)相結(jié)合，提高了集成電路的開短路測試精度和穩(wěn)定性，可以為電子元器件生產(chǎn)行業(yè)帶來重要的發(fā)展和利益。