雙85測試的目的

發(fā)布時(shí)間:2024-03-18
雙85測試的目的
由于pcb基材的絕緣層是由樹脂與玻璃布所構(gòu)成,當(dāng)在高電壓狀態(tài)下,通孔與通孔、線路與線路、線路與通孔間形成一個(gè)電場,而pcb濕制程很多,水分中或板面清潔不良?xì)埩舻碾娊赓|(zhì)可能經(jīng)由鉆孔產(chǎn)生的微裂縫順著玻璃纖的方向遷移產(chǎn)生短路,造成絕緣失效,這種現(xiàn)象稱為caf陽極性玻纖絲的漏電現(xiàn)象。caf測試通過監(jiān)控測試單元的電阻,當(dāng)caf發(fā)生時(shí),絕緣層的絕緣性能下降,電阻也隨之下降,由此可判斷caf的失效。電解離子的遷移是需要條件的。高溫高濕加偏壓剛好提供了離子加速遷移的條件 。
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