①物理概念不同
基線平直度：全波長范圍內(nèi)，各個波長上的噪聲，與濾光片和光源切換有關(guān)；
基線漂移：與時間有關(guān)的光度值的變化量，主要影響因素是儀器的電子學部分和儀器周圍的環(huán)境。
②測試條件不同
基線平直度：在a=o、sbw-2nm的條件下，進行全波長慢速掃描；
基線漂移：在a=o. sb、ⅳ＝2nm、波長固定為500nm的條件下，紫外可見分光光度計儀器冷態(tài)開機（關(guān)機2h后開機），預熱2h后，進行掃描th，取這th內(nèi)最小值之差，即為基線漂移。
③影響的因素不同
基線平直度：影響基線平直度的因素有7個;
基線漂移：影響基線漂移的主要因素是儀器的電子學系統(tǒng)（主要是電源）和環(huán)境（電磁場、溫度、濕度等）。