最近， tektronix 推出了一款針對(duì)lpddr4實(shí)體層測(cè)試的解決方案，此解決方案可為移動(dòng)設(shè)備市場(chǎng)提供更加完整的測(cè)試覆蓋。
lpddr4是目前手機(jī)和平板電腦等移動(dòng)設(shè)備中，最常用的內(nèi)存芯片之一。它可以提供更高的帶寬和更低的功耗，從而提高移動(dòng)設(shè)備的執(zhí)行效率和電池壽命。即使如此，該技術(shù)仍然面臨許多挑戰(zhàn)，如需要在不降低數(shù)據(jù)吞吐量的情況下增加內(nèi)存容量和保證穩(wěn)定性等。
tektronix推出的lpddr4實(shí)體層測(cè)試解決方案正是為了解決這些挑戰(zhàn)而推出的，它可以幫助開發(fā)人員來確保lpddr4內(nèi)存芯片在研發(fā)過程中以及在產(chǎn)品的生產(chǎn)和使用階段中具有高度的穩(wěn)定性和性能表現(xiàn)。此解決方案包含了三個(gè)核心技術(shù)，分別是時(shí)域反射（tdr），時(shí)域掃描（tdr）和eye圖分析技術(shù)。
tdr技術(shù)可以幫助檢測(cè)內(nèi)存芯片線路故障，同時(shí)在研發(fā)和生產(chǎn)階段中可提供快速和準(zhǔn)確的測(cè)試結(jié)果。而tdt技術(shù)可以幫助檢查內(nèi)存信道的連通性，以判別故障部分的位置。最后，eye圖分析技術(shù)可以防止內(nèi)存芯片信號(hào)干擾，保證信號(hào)發(fā)送和接收的質(zhì)量。tektronix lpddr4實(shí)體層測(cè)試解決方案可以簡(jiǎn)化測(cè)試流程、提高測(cè)試效率和精度。
對(duì)于移動(dòng)設(shè)備市場(chǎng)而言，可靠的內(nèi)存芯片是必須品，因此需要更多的技術(shù)創(chuàng)新和測(cè)試手段來保證產(chǎn)品的質(zhì)量。tektronix這種推出lpddr4實(shí)體層測(cè)試解決方案的舉措將會(huì)對(duì)移動(dòng)設(shè)備市場(chǎng)產(chǎn)生積極的影響，會(huì)有利于內(nèi)存芯片的穩(wěn)定性和性能。在未來，我們有理由相信，tektronix lpddr4實(shí)體層測(cè)試解決方案將會(huì)在移動(dòng)設(shè)備市場(chǎng)中發(fā)揮更加重要的作用。