弱光微光微光亮度計是一種測光和測色的計量儀器。是每個化學(xué)分析實驗室常用儀器設(shè)備之一在各種定量和定性分析中得到了廣泛的應(yīng)。微光亮度計在稀土材料、熒光材料、反光服飾等微光檢測專用儀器。
ss200lm是遮光筒式弱光微光亮度計（輝度計、全數(shù)字微光亮度計），采用 smt32芯片、嵌入式系統(tǒng)，高速16位ad取樣精度高 ，精密放大電源電路、低功耗，探測器經(jīng)過嚴(yán)格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定， 適用性強(qiáng)。該儀器測量應(yīng)急出口標(biāo)志、背光源、面光源等的亮度均勻性測量，經(jīng)濟(jì)實用，操作簡易。 亮度探頭v（λ）修正水平達(dá)國家標(biāo)準(zhǔn)級（class a），實現(xiàn)亮度的精確測量工作
鋁合金機(jī)身、154寸ips觸摸屏、上下線設(shè)置、分選測試、光度變化曲線（pc軟件）、16位100ks/s采樣（高速）、亮度、平均亮度、最大亮度、最小亮度、透射比
一、參數(shù)性能
型號
ss200lw弱光微光照度計
光譜響應(yīng)
λ380-780nm
測試功能
亮度(mcd/m2)、、亮透射比(%)、亮照度(mcd/m2·h)、亮照度(mcd/m2)
傳感器
硅光器件
測量范圍
1mcd/m2-10000cd/m2
分辨率
1m cd/m2
v(λ)失配誤差
f1'≤3.5%（標(biāo)準(zhǔn)級standardclass）orf1'≤5%（一級class1）
余弦修正特性
f2'≤2%（標(biāo)準(zhǔn)級）orf2'≤4%（一級）
感光面積
φ8mm（customizedaccordingtoneeds）
測試范圍
±4%（accordingtojjg245-2005）or±1%（accordingtojjg245-2005）
測量誤差
測量最大允許誤差：一級(±4%讀數(shù)±1個讀數(shù)）國家l級
光學(xué)測量準(zhǔn)確度
探測器余弦修正v(λ)修正水平，達(dá)到國家l級照度計要求；
顯示方式
1.54ips觸摸屏
通訊
type-c接口藍(lán)牙
用戶校正功能
修正系數(shù)功能、校零、定標(biāo)
外形尺寸
50mm*50mm*60mm
使用環(huán)境
溫度：18℃～30℃濕度：35%rh～75%rh
量程
自動量程
電池容量
1600mah高容量電池一次充電可使用12小時左右
重量
135g
顯示刷新率
10次／秒；
采樣
16位100ks/s 高速ad
二、探測器光譜響應(yīng)曲線
三、質(zhì)保及售后
1、儀器質(zhì)保兩年
2、終身維護(hù)及技術(shù)支持
3、售后及技術(shù)支持電話
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