二手菲希爾鍍層測厚儀轉(zhuǎn)讓，臺式x熒光光譜儀價格產(chǎn)品介紹
臺式x熒光光譜儀價格由深圳市美程精密電子有限公司現(xiàn)貨銷售臺式x熒光光譜儀價格,xau系列熒光光譜儀是一機(jī)多用型光譜儀，應(yīng)用了核心efp算法和微光聚集技術(shù)，既保留了測厚儀檢測微小樣品和凹槽的膜厚的性能，又可滿足微區(qū)rohs檢測及成分分析。
基本參數(shù)
fischer德國菲希爾 型號 xdlm 237
新舊程度 9成新 加工定制 寬×深×高[mm]：570×760×650，內(nèi)部尺寸寬×深×高[mm]：460×495x
類型 x射線熒光光譜測厚儀 材料 105 kg
fischer 產(chǎn)地 德國
型號 xdlm 237 元素范圍 氯cl（17）至鈾u（92）–同時多達(dá)24種元素
設(shè)計用途 能量色散x射線熒光光譜儀（edxrf）用于確定薄涂層，小結(jié)構(gòu)，痕跡和合金。 設(shè)計理念 臺式儀器，測量門向上開啟
測量方向 由上往下 x射線源 帶鈹窗口的鎢管
高壓 可調(diào)： 30 kv，40 kv，50 kv 孔徑準(zhǔn)直器 ?0.2毫米 ?0.3毫米 插槽0.05毫米x 0.05毫米（其他可根據(jù)要求提供）
二手fischerscope?-x-rayxdlm?儀器轉(zhuǎn)讓，安裝、調(diào)試、人員培訓(xùn)一站式服務(wù)
費希爾x射線熒光光譜鍍層材料分析儀/x-ray厚度測試儀/射線鍍層厚度檢測儀fischerscope x-ray xdal 237是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型射線熒光材料分析及鍍層測厚儀。它尤其適合在自動化測量應(yīng)用中無損測量薄鍍層厚度和分析材料。fischerscope x-ray xdal 237費希爾x射線熒光光譜鍍層材料分析儀配備可編程運行xy軸工作臺及z軸升降系統(tǒng)，全自動測量薄鍍層厚度和分析材料成分。
費希爾x射線熒光光譜鍍層材料分析儀的詳細(xì)介紹
費希爾x射線熒光光譜鍍層材料分析儀/x-ray厚度測試儀/射線鍍層厚度檢測儀fischerscope x-ray xdal 237典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：
分析小于的薄鍍層
測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層
測定復(fù)雜的多鍍層系統(tǒng)
全自動測量，如在質(zhì)量控制領(lǐng)域
分析焊錫中鉛含量
配備可選的sdd探測器：可測量鎳磷中的磷含量
費希爾x射線熒光光譜鍍層材料分析儀/x-ray厚度測試儀/射線鍍層厚度檢測儀fischerscope x-ray xdal 237設(shè)計理念：
fischerscope x-rayxdal237是一款界面友好的臺式測量儀器。它裝備了高精度，可編程運行的工作臺和電調(diào)的軸升降系統(tǒng)，是進(jìn)行自動測量的理想儀器。當(dāng)保護(hù)門開啟時，工作臺會自動移到放置樣品的位置。通過激光光點，可以輔助定位并快速對準(zhǔn)測量位置。高分辨率的彩*攝像頭具備強(qiáng)大的放大功能，可以精-確定位測量位置。通過視頻窗口，還可以實時觀察測量過程和進(jìn)度。位置的精-確微調(diào)可以直接手動調(diào)整儀器或搖桿，或通過操作鼠標(biāo)和鍵盤來實現(xiàn)。測量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品設(shè)計，由此儀器就可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。例如：大型的印制電路板。有的操作，測量數(shù)據(jù)的計算，以及測量數(shù)據(jù)報表的清晰顯示都是通過強(qiáng)大而界面友好的軟件在電腦上完成的。
xdal型鍍層測厚及材料分析儀作為受*保護(hù)的儀器，型式許可符合德國“deutsche r?ntgenverordnung-r?v”法規(guī)規(guī)定。
為了使每次測量都在*佳的激發(fā)條件下進(jìn)行，費希爾x射線熒光光譜鍍層材料分析儀/x-ray厚度測試儀/射線鍍層厚度檢測儀fischerscope x-ray xdal 237配備了可電動切換的多個準(zhǔn)直器和基本濾片。半導(dǎo)體探測器能夠達(dá)到很高的分析精度及探測靈敏度。型射線熒光材料分析及鍍層測厚儀有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就大大減少了重新校準(zhǔn)儀器的需要，為您節(jié)省時間和精力。由于采用了基本參數(shù)法，無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品，都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行分析和測量。從元素鋁（）到鈾（），*多可同時測定種元素。尤其適合測量和分析薄鍍層，即使是十分復(fù)雜的成分構(gòu)成或是十分微小的成分含量都不成問題。儀器配備高速可編程運行的平臺，它是質(zhì)量控制和生產(chǎn)監(jiān)控的自動測量過程的合適的測量儀器。
費希爾x射線熒光光譜鍍層材料分析儀/x-ray厚度測試儀/射線鍍層厚度檢測儀fischerscope x-ray xdal 237詳細(xì)參數(shù)規(guī)格：
1、通用規(guī)格
設(shè)計用途：能量色散x射線熒光材料分析及鍍層測厚儀用來測量薄鍍層和微小結(jié)構(gòu)，分析合金和微量組分。
形式設(shè)計：臺式儀器，測量門向上開啟可編程的工作臺和電調(diào)的軸馬達(dá)驅(qū)動的可更換的準(zhǔn)直器和基本濾片
視頻攝像頭和激光點（類）定位測量點。
測量方向：從上到下。
2、x射線源
x射線管：帶鈹窗口的微聚焦管
高壓、三檔：10、30、50kv
孔徑（準(zhǔn)直器）：4個可切換準(zhǔn)直器：圓形；長方形、可按要求定制其它規(guī)格。
基本濾片：3種可切換的基本濾片（標(biāo)準(zhǔn)配置：鎳，鋁，無）
測量點：取決于測量距離及準(zhǔn)直器大??；在視頻窗口中顯示實際的測量點大小。*小的測量點大小約為0.15mm直徑。
測量距離：0-80mm、在不同距離使用磚利簡化方法的距離補(bǔ)償測量。如果是特定的應(yīng)用程序或更高的校準(zhǔn)精度要求，校正是必要的。
3、x射線探測
標(biāo)準(zhǔn)：x射線接收器采用珀耳帖法冷卻的半導(dǎo)體探測器、能量分辨率小于等于200ev、元素范圍硫為s(16)到到鈾u(92)
可選sdd：x射線接收器采用珀耳帖法冷卻的硅漂移探測器、能量分辨率小于等于160ev、元素范圍為鋁al(13)到鈾u(92)
4、樣品定位
視頻系統(tǒng)：高分辨率彩色攝像頭，沿著初級射線光束方向觀察測量位置手動聚焦，對被測位置進(jìn)行監(jiān)控
十字線（帶有經(jīng)過校準(zhǔn)的刻度和測量點尺寸）、可調(diào)節(jié)亮度的照明、激光光點用于精-確定位樣品。
放大倍數(shù)：40*-160*
5、工作臺
快速，電機(jī)驅(qū)動，可編程的x/y工作臺
移動范圍xy方向：255mm*235mm；z軸:140mm
xy平臺移動速度80mm/s
xyz移動重復(fù)精度小于等于0.01mm（單向）
可用樣品放置區(qū)域長寬：300mm*350mm
樣品重量5kg，降低精度要求情況下可達(dá)20kg
樣品高度140mm
6、電氣參數(shù)
電源要求交流220v、50hz
功耗120w(不包括計算機(jī))
保護(hù)等級ip40
7、尺寸規(guī)格
外部尺寸寬深高：570*760*650
重量約115kg
內(nèi)部測量室尺寸寬深高：460*495*146
8、環(huán)境要求
使用時溫度：10-40攝氏度
存儲或運輸時溫度：0-50攝氏度
空氣相對濕度，小于等于95%、無結(jié)露
9、計算單元
計算機(jī)：帶擴(kuò)展卡的計算機(jī)系統(tǒng)
軟件：標(biāo)準(zhǔn)：包含fischer winftm basic包含pdm；可選：fischer winftm super
10、執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)
ce合格標(biāo)準(zhǔn)：en61010
x射線標(biāo)準(zhǔn)：din iso 3497和astm b 568
型式批準(zhǔn)：作為受*保護(hù)的儀器
型式許可*符合德國“deutsche r?ntgenverordnung-r?v”法規(guī)的規(guī)定。