近日，美國adi公司公布了一份關(guān)于新的ansi/esda/jedec js-002 cdm測試標準的概覽。這個新標準的發(fā)布是為了更好地評估集成電路（ic）裝置對人造傳輸模式（cdm）靜電放電的反應(yīng)能力。
ansi/esda/jedec js-002 cdm測試標準是一個被廣泛使用的測試標準，它被用來測試ic在制造和散熱期間的安全性。在使用該測試標準的情況下，測試人員將會通過將靜電電荷注入器導(dǎo)向目標芯片來進行測試，從而模擬靜電放電所帶來的影響。
根據(jù)adi公司的概覽，這個新標準有以下幾個優(yōu)點：
1.更貼近實際情況：該測試標準使用的是人造傳輸模式，這更加接近于現(xiàn)實中ic與焊盤之間的相互作用。
2.更簡便易行：測試人員可以在短時間內(nèi)完成對目標芯片的測試，從而可以更快地獲得測試結(jié)果。
3.更廣泛適用：該測試標準適用于各種不同的芯片和應(yīng)用領(lǐng)域。
此外，該測試標準還包含了一些更新和細化的要求，包括測試時需要使用20 ns的測試脈沖，以及對芯片的測試要求更加嚴格等。
總的來說，這個新的ansi/esda/jedec js-002 cdm測試標準的發(fā)布為ic制造企業(yè)提供了更加準確和詳細的測試方法，旨在幫助企業(yè)更好地保證芯片的安全性并提升產(chǎn)品質(zhì)量。