分享E+H雷達物位計的用途

發(fā)布時間:2025-03-04
e+h恩德斯豪斯雷達物位計雷達物位計分類
雷達物位計目前已成為物位測量儀表市場上的主流產(chǎn)品,主要分為雷達物位計和導波雷達物位計。
e+h恩德斯豪斯雷達物位計雷達物位計
雷達物位計發(fā)射功率很低的極短的微波通過天線系統(tǒng)發(fā)射并接收。雷達波以光速運行。運行時間可以通過電子部件被轉(zhuǎn)換成物位信號。一種特殊的時間延伸方法可以確保極短時間內(nèi)穩(wěn)定和的測量。即使存在虛假反射的時候,的微處理技術和軟件也可以準確地分析出物位回波。通過輸入容器尺寸,可以將上空距離值轉(zhuǎn)換成與物位成正比的信號。儀表可以空倉調(diào)試。在固體測量中的應用可以使用k-頻段的高頻傳感器。由于信號的聚焦效果非常好,料倉內(nèi)的安裝物或倉壁的粘附物都不會影響測量。
分類
e+h恩德斯豪斯導波雷達物位計
導波雷達物位計的微波脈沖沿著一根纜、棒或包含一根棒的同軸套管運行,接觸到被測介質(zhì)后,微波脈沖被反射回來,并被電子部件接收,并分析計算其運行時間。微處理器識別物位回波,分析計算后將它轉(zhuǎn)換成物位信號給出。由于測量原理簡單,可以不帶料調(diào)整,從而節(jié)省了大量調(diào)試費用。測量纜或棒可以截短,使之更加適應現(xiàn)場的應用。對于蒸汽不敏感,即使在煙霧、噪音、蒸汽很強烈的情況下,測量精度也不受到影響。不受介質(zhì)特性變化的影響,被測介質(zhì)的密度變化或介電常數(shù)的變化不會影響測量精度。粘附:沒有問題,在測量探頭或容器壁上粘附介質(zhì)不會影響測量結(jié)果。容器內(nèi)安裝物如果采用同軸套管式的測量*不受容器內(nèi)安裝物的影響,不需要特殊調(diào)試??梢蕴峁┎煌问降奶筋^用于不同應用:纜式,用于測量液體介質(zhì)或重量大的固體介質(zhì),量程可達60米;棒式,用于測量液體介質(zhì)或重量輕的固體介質(zhì),量程可達6米;同軸套管,用于測量低黏度的介質(zhì),不受過程條件的影響,量程可達6米。
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