19055耐壓測(cè)試分析儀19055-c耐壓測(cè)試分析儀主要特色：
500va 輸出floating 輸出設(shè)計(jì)，符合en50191要求corona 電暈放電偵測(cè)(19055-c)flashover 電氣閃絡(luò)偵測(cè)bdv崩潰電壓分析專利 hfcc高頻接觸偵測(cè)專利 osc開(kāi)短路偵測(cè)gfi人體保護(hù)電路標(biāo)準(zhǔn)rs232&handler介面可選購(gòu)gpib介面不良時(shí)面板鎖定功能可程式電壓輸出及測(cè)試限制值支援 a190301 高壓掃描治具功能
耐壓測(cè)試
- 交流 5kv/100ma
- 直流 6kv/25ma絕緣電阻測(cè)試
- 5kvmax
- 1mω~50gωchroma 19055 耐壓分析儀為針對(duì)耐壓測(cè)試與分析所設(shè)計(jì)的設(shè)備。其具備500va大功率，大輸出交流5kv/100ma，符合大功率耐壓測(cè)試需求，以及符合en50191的設(shè)備要求(詳細(xì)資訊請(qǐng)參考應(yīng)用文件)。
19055-c系列除了基本的交流耐壓、直流耐壓、絕緣電阻測(cè)試外，加入新研發(fā)的電暈放電偵測(cè)功能 (corona discharge detection, cdd)，可經(jīng)由崩潰電壓分析 (breakdown voltage analysis)分別檢出 :
- 電暈放電啟始電壓(corona discharge start voltage, csv)
- 電氣閃絡(luò)啟始電壓(flashover start voltage, fsv)
- 絕緣崩潰電壓(breakdown voltage, bdv)
對(duì)於測(cè)試時(shí)的接觸檢查議題，除原有專利設(shè)計(jì)osc開(kāi)短路偵測(cè) (open short check)外，新增高頻接觸檢查 (high frequency contact check, hfcc) ，高壓輸出前進(jìn)行接觸檢查，提升測(cè)試可靠度與效率。
為體貼使用者，chroma 19055置入大型lcd顯示屏幕，方便操作與判斷。加入gfi 人體保護(hù)電路以及floating安全輸出設(shè)計(jì)，保護(hù)操作人員的安全，讓您在操作時(shí)無(wú)後顧之憂。
量測(cè)技術(shù)耐壓測(cè)試絕緣崩潰(breakdown) /電氣閃絡(luò)(flashover) /電暈放電偵測(cè)技術(shù)(corona)
何謂耐壓不良? 大部份的電氣安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)敘述為during the test, no flashover or breakdown shall occur，意指在耐壓測(cè)試中，不得有電氣閃絡(luò)或絕緣崩潰發(fā)生。但現(xiàn)今絕緣失效(failure)及放電(discharge)已成為各類絕緣材料或耐壓零組件重視的議題。由於放電與絕緣能力之間具有極高的相關(guān)性，所以放電偵測(cè)不僅是安全議題，更是控制產(chǎn)品品質(zhì)的主要關(guān)鍵。若依材料放電的性質(zhì)來(lái)分類，放電可分為三種 : 電暈放電(corona discharge)、火花放電(glow discharge)、電弧放電(arc discharge) 。
電暈放電(corona discharge): 當(dāng)二電極間承受較高電壓時(shí)，電場(chǎng)強(qiáng)度相對(duì)較大，當(dāng)此作用大於氣體之電離位能(ionization potential) ，於材料表面氣體發(fā)生暫態(tài)離子化的現(xiàn)象，此時(shí)會(huì)有可見(jiàn)光出現(xiàn)以及溫升現(xiàn)象。長(zhǎng)期的電暈放電與溫升可能會(huì)造成材料的質(zhì)變(qualitative change)，進(jìn)而導(dǎo)致絕緣劣化 (insulation deterioration) ，使得絕緣耐受程度下降，終發(fā)生絕緣失效。圖1為電暈放電示意圖。由於電暈放電會(huì)產(chǎn)生高頻的暫態(tài)放電，是可以用高頻電量量測(cè)的方式偵測(cè)。