不銹鋼中不同材料的區(qū)分示例分析
該設(shè)備由高壓發(fā)生器、分光頭、計(jì)數(shù)電路、使用液晶觸摸屏的cpu系統(tǒng)和樣品室組成。x 射線源是一種節(jié)能風(fēng)冷緊湊型 x 射線管。分光頭由雙曲面環(huán)形lif和毛細(xì)管組成，具有可在cpu控制下更換每個(gè)激發(fā)源的結(jié)構(gòu)。光譜頭和樣品室由4μm厚的聚合物膜隔板隔開，頭內(nèi)部保持?jǐn)?shù)pa的真空，樣品置于空氣中。結(jié)果，減少了由空氣引起的散射輻射，并且可以容易地進(jìn)行測量。x射線探測器采用高分辨率硅漂移探測器（sdd），無需液氮，計(jì)數(shù)率高。探測器元件采用兩級珀耳帖元件冷卻，冷卻溫度控制在-20±0.5℃。計(jì)數(shù)電路使用緊湊型數(shù)字信號處理器 (dsp)。cpu部分采用液晶觸摸屏，無需安裝空間，操作簡單。為了用環(huán)形單色儀對初級 x 射線 pd-kα 射線進(jìn)行單色化和聚焦，需要以良好的激發(fā)效率和良好的 p/b 比分析過渡金屬、mo 和 pb 等。
x射線管：風(fēng)冷鈀靶
kv-ma：40-1（pd-kα單色光束）
測量時(shí)間：100秒
檢測器：sdd（元件冷卻：-20°c，mn-kα射線能量分辨率：160 ev以下）
結(jié)果與討論在鋼種鑒別的情況下，由于樣品測量表面并不總是平坦的，因此通過取樣品的一次 x 射線與散射 x 射線的比率進(jìn)行校正。首先分析鑄錠標(biāo)準(zhǔn)樣品的平面。cr-kα線、ni-kα線和mo-kα線用于測量光譜。圖1-1為各光譜線的校準(zhǔn)曲線與散射x射線的比值校準(zhǔn)曲線。兩條校準(zhǔn)曲線獲得了幾乎相同的結(jié)果。圖1-2顯示了樣品圓柱面（側(cè)面，直徑約40mmφ）的測量結(jié)果，結(jié)果與平面幾乎相同。接下來，1-3 顯示了使用 cr-kα 和 mo-kα 射線研究距離特性的結(jié)果。x 射線分析值在距參考物 1、2 和 3 mm 距離處與散射 x 射線的強(qiáng)度比相比，cr 的最大誤差為 1.41wt%，mo 的最大誤差為 0.06wt%位置。cr 和 mo 的檢測下限分別為 0.0063wt% 和 0.0009wt%。
概括由以上結(jié)果可知，通過使用ourstex100f獲取散射x射線的強(qiáng)度比，能夠以充分的精度獲得鋼種判別。這被認(rèn)為是由于環(huán)形光譜儀將來自 x 射線管的初級 x 射線會(huì)聚到樣品表面上 2-3 mmφ 的效果。預(yù)計(jì)該緊湊型裝置將在未來有效地用作簡單鋼型鑒別的異物鑒別裝置。
測量結(jié)果1
測量結(jié)果 2
測量結(jié)果 2
推薦設(shè)備能量色散x射線熒光光譜儀“ourstex100fa”
關(guān)鍵詞：光譜儀 熒光光譜儀