功率場效應晶體管結構與工作原理

發(fā)布時間:2024-07-31
一、結構與工作原理
1.結構
mosfet的類型很多,按導電溝道可分為p溝道和n溝道;根據(jù)柵極電壓與導電溝道出現(xiàn)的關系可分為耗盡型和增強型。功率場效應晶體管一般為n溝道增強型。從結構上看,功率場效應晶體管與小功率的mos管有比較大的差別。小功率mos管的導電溝道平行于芯片表面,是橫向導電器件。而p-mosfet常采用垂直導電結構,稱vmosfet(vertical mosfet),這種結構可提高mosfet器件的耐電壓、耐電流的能力。圖1給出了具有垂直導電雙擴散mos結構的vd-mosfet(vertical double-diffused mosfet)單元的結構圖及電路符號。一個mosfet器件實際上是由許多小單元并聯(lián)組成。
a) 結構圖 b) 符號(n溝道) c) 符號(p溝道)
圖1 mosfet的結構圖及電路符號
2.工作原理
如圖1所示,mosfet的三個極分別為柵極g、漏極d和源極s。當漏極接正電源,源極接負電源,柵源極間的電壓為零時,p基區(qū)與n區(qū)之間的pn結反偏,漏源極之間無電流通過。如在柵源極間加一正電壓ugs,則柵極上的正電壓將其下面的p基區(qū)中的空穴推開,而將電子吸引到柵極下的p基區(qū)的表面,當ugs大于開啟電壓ut時,柵極下p基區(qū)表面的電子濃度將超過空穴濃度,從而使p型半導體反型成n型半導體,成為反型層,由反型層構成的n溝道使pn結消失,漏極和源極間開始導電。ugs數(shù)值越大,p-mosfet導電能力越強,id也就越大。
二、工作特性
1.靜態(tài)特性
(1)漏極伏安特性
漏極伏安特性也稱輸出特性,如圖2所示,可以分為三個區(qū):可調電阻區(qū)ⅰ,飽和區(qū)ⅱ,擊穿區(qū)ⅲ。在ⅰ區(qū)內,固定柵極電壓ugs,漏源電壓uds從零上升過程中,漏極電流id首先線性增長,接近飽和區(qū)時,id變化減緩,而后開始進入飽和。達到飽和區(qū)ⅱ后,此后雖uds增大,但id維持恒定。從這個區(qū)域中的曲線可以看出,在同樣的漏源電壓uds下,ugs越高,因而漏極電流id也大。當uds過大時,元件會出現(xiàn)擊穿現(xiàn)象,進入擊穿區(qū)ⅲ。
(2)、轉移特性
漏極電流id與柵源極電壓ugs反映了輸入電壓和輸出電流的關系,稱為轉移特性,如圖3所示。當id較大時,該特性基本上為線性。曲線的斜率gm=△id/△ugs稱為跨導,表示p-mosfet柵源電壓對漏極電流的控制能力,與gtr的電流增益β含義相似。圖中所示的ugs(th)為開啟電壓,只有ugs>ugs(th)­時才會出現(xiàn)導電溝道,產(chǎn)生柵極電流id。
圖2 漏極伏安特性 圖3 轉移特性
2.開關特性
p-mosfet是多數(shù)載流子器件,不存在少數(shù)載流子特有的存貯效應,因此開關時間很短,典型值為20ns,而影響開關速度的主要是器件極間電容。圖4為元件極間電容的等效電路,從中可以求得器件輸入電容為cin=cgs+cgd。正是cin在開關過程中需要進行充、放電,影響了開關速度。同時也可看出,靜態(tài)時雖柵極電流很小,驅動功率小,但動態(tài)時由于電容充放電電流有一定強度,故動態(tài)驅動仍需一定的柵極功率。開關頻率越高,柵極驅動功率也越大。
p-mosfet的開關過程如圖5所示,其中up為驅動電源信號,ugs為柵極電壓,id為漏極電流。當up信號到來時,輸入電容cin有一充電過程,使柵極電壓ugs只能按指數(shù)規(guī)律上升。p-mosfet的開通時間為ton=td(on)+tr。當up信號下降為零后,柵極輸入電容cin上貯存的電荷將通過信號源進行放電,使柵極電壓ugs按指數(shù)下降,到up結束后的td(off)時刻,id電流才開始減小,故td(off)稱為關斷延遲時間。p-mosfet的關斷時間應為toff=td(off)+tf。
圖4 輸入電容等效電路 圖5 開關特性
三、主要參數(shù)與安全工作區(qū)
1.主要參數(shù)
(1)漏極電壓uds
漏極電壓uds為p-mosfet的電壓定額。
(2) 電流定額id
電流定額id為漏極直流電流,idm為漏極脈沖電流幅值。
(3) 柵源電壓ugs
柵源間加的電壓不能大于此電壓,否則將擊穿元件。
2.安全工作區(qū)
p-mosfet是多數(shù)載流子工作的器件,元件的通態(tài)電阻具有正的溫度系數(shù),即溫度升高通態(tài)電阻增大,使漏極電流能隨溫度升高而下降,因而不存在電流集中和二次擊穿的限制,有較寬的安全工作區(qū)。p-mosfet的正向偏置安全工作區(qū)由四條邊界包圍框成,如圖6所示。其中ⅰ為漏源通態(tài)電阻限制線;ⅱ為最大漏極電流idm限制線;ⅲ為最大功耗限制線;ⅳ為最大漏源電壓限制線。
圖6 p-mosfet正向偏置安全工作區(qū)
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