元素分析的核心技術

發(fā)布時間:2024-07-29
旋轉圓盤電極(rde)和基于電感耦合等離子體(icp)的原子發(fā)射光譜(oes) 系統是用于機械分析的核心技術。rde和 icp描述了油液中的元素氣化的方式。在元素氣化時,存在的元素以其特征波長發(fā)射光,其由 oes系統檢測并定量為ppm水平。來自斯派超科技的spectroil系列產品,已經成為rde的首要解決方案。
當然這些核心技術始終依賴于以下假設:被監(jiān)測的機器,將產生連續(xù)的顆粒,因為兩者都不能探測圓形直徑大于約10微米(對于icp為5微米,對于rde為10微米)的顆粒,這樣做所需的汽化能量對于這種大顆粒而言太高。當小顆粒假設不成立時,必須使用諸如酸化的特殊技術以便在樣品分析之前進一步將碎片分解成可測量的尺寸。隨著油中總顆粒水平持續(xù)下降,一般來說,分析這樣的顆粒變得越來越重要:
針對上述情況斯派超科技已經開發(fā)了fieldlab58系列,其提供了一種新的元素分析方法,其重點在于所謂的“間隙”的靈敏度對于rde為10微米,對于基于顯微鏡的特殊溶液(例如掃描電子顯微鏡/能量分散x射線分析(sem /edx) 為50微米。
fieldlab58采用兩步法將油樣中大于4微米的顆粒預濃縮到一個濾器試樣上,然后通過x射線熒光(xrf)對顆粒進行分析。這種技術對跨越設備間隙區(qū)域及其他碎片非常敏感(亞ppm)。此外,由fieldlab 58捕獲的這種大顆粒本身的生成速率的增加是對機械故障的方法的直接測量。在許多監(jiān)測情況下,只有存在這種大顆粒才會觸發(fā)報警。
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