高溫鐵電測(cè)試儀可以測(cè)量鐵電材料的電滯回線，飽和極化ps、剩余極化pr、矯頑場(chǎng)ec、漏電流、疲勞、保持、i-v和開(kāi)關(guān)特性等性能的測(cè)試，能夠較全面準(zhǔn)確地測(cè)量鐵電薄膜的鐵電性能。目前該系統(tǒng)測(cè)量溫度800°c,可配置薄膜和塊體測(cè)量夾具，可廣泛應(yīng)用于薄膜、厚膜和塊狀陶瓷、鐵電器件及存儲(chǔ)器等領(lǐng)域的研究。
高溫鐵電測(cè)試儀測(cè)試系統(tǒng)采用虛地模式測(cè)量電路，與傳統(tǒng)的sawyer-tower模式相比，此電路取消了外接電容，可減小寄生元件的影響。此電路的測(cè)試精度僅取決于積分器積分電容的精度，減少了對(duì)測(cè)試的影響環(huán)節(jié)，比較容易定標(biāo)和校準(zhǔn)，并且能實(shí)現(xiàn)較高的測(cè)量準(zhǔn)確度，它不僅能畫(huà)出鐵電薄膜的電滯回線，還可以定量得到鐵電薄膜材料的飽和極化ps、剩余極化pr、矯頑場(chǎng)ec、漏電流ik等參數(shù)，以及對(duì)鐵電薄膜材料鐵電疲勞性能、鐵電保持性能的測(cè)試。能夠較全面準(zhǔn)確地測(cè)量鐵電薄膜的鐵電性能。儀器采用一體化設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)測(cè)試結(jié)果全數(shù)字化，操作簡(jiǎn)單方便。
高溫鐵電測(cè)試儀應(yīng)用領(lǐng)域
1.鐵電材料的電滯回線（動(dòng)態(tài)與靜態(tài)）、漏電流等特性。
2.測(cè)量記錄在薄膜樣品上施加階躍電壓時(shí)的電流響應(yīng)。
3.超晶格材料在方波脈沖電壓激勵(lì)下的自漏電特性。