各種儀器儀表檢定規(guī)程表
序號
*檢定項(xiàng)目名稱
測量范圍
準(zhǔn)確度等級或測量擴(kuò)展不確定度
依據(jù)檢定規(guī)程編號
1 二等量塊 （0.5～100）mm 2等 jjg146-2003
2 量塊 （0.5～1000）mm 3等 jjg146-2003
3 量塊 （0.5～1000）mm 四等、五等 jjg146-2003
4 量塊 （10～291.8）mm u=（0.50+0.5l）μm （k=2.7） jjg146-2003
5 正多面體棱體 0°～360° 二等、三等、四等 jjg283-1997
6 測角儀 （0～360）° 1級，2級，5級，10級 jjg97-2001
7 多齒分度臺 （0～360）° 0級，1級，2級 jjg472-1997
8 光學(xué)、數(shù)顯分度頭 （0～360）° 1～20 jjg57-1999
9 角度塊 （0～360）° 0、1、2級 jjg70-2004
10 自準(zhǔn)直儀 （0～10）′0～1000分度 5個(gè)分度
光電：mpe:2
目視：mpe:3； jjg202-2007
11 平面平晶 d（30～150）mm 1級,2級 jjg28-2000
12 平行平晶 （ⅰ-ⅳ）系列 平面度（mpe）:≤0.1μm 平行度（mpe）:
（0.6～1.0）μm jjg28-2000
13 長平晶 （0～210）mm u=0.010μm （k=2） jjg28-2000
14 平面平晶 φ150mm 一等，二等，1級，2級 jjg28-2000
15 研磨面平尺 （0～500）mm u=（0.011 ～ 0.032）μm （k=2） jjg740-2005
16 干涉顯微鏡 h:（ 0.1～1.0）μm mpe：±（22～5）％ jjg77-2006
17 線紋比較儀 （0～250）mm mpe：±（1+l/100）μm jjg72-1980
18 200型比較儀 （0～200）mm 像點(diǎn)瞄準(zhǔn)：
±（0.5+l/300+h/100）μm
光電瞄準(zhǔn)：±（0.3+l/300）μm jjg523-1988
19 工具顯微鏡 （0～200）mm mpe:±（1+l/100）μm jjg56-2000
20 測量顯微鏡
讀數(shù)顯微鏡 （0～50）mm
分度值：
（0.0005～0.01）mm mpe:±（5+l/15）μm jjg571-2004
21 光學(xué)計(jì) （0～250）mm mpe:±（0.05+a/400）μm jjg45-1999
22 接觸式干涉儀 （0～150）mm mpe:±（0.03+1.5ni△λ／λ）μm jjg101-2004
23 立式激光測長儀 （0～100）mm mpe:±（0.2+2l）μm jjg764-1992
24 柯氏干涉儀 （0～125）mm mpe:±（0.03+0.5l）μm jjg770-1992
25 激光量塊干涉儀 （0～1000）mm mpe:±（0.03+0.2l）μm jjg371-2005
26 數(shù)顯測高儀 （0～1000）mm 0級±（2+l/300）μm
1級±（3+l/150）μm
3級±（4+l/750）μm jjg929-1998
27 測長儀 （0～500）mm mpe:±（1+l/200）&m