ic卡動態(tài)彎曲雙向扭試驗機用于檢測磁條卡，ic芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測試。
ic卡動態(tài)彎曲雙向扭試驗機簡介：本儀器針對性ic卡在國標gb/t 16649.1，國標gb/t-17554.1-2006及iso10373和iso7816-1998標準等試驗標準中的彎曲、扭矩的試驗;*符合以上標準。
ic卡動態(tài)彎曲雙向扭試驗機技 術 參 數
1.型號：mx-ic
2.扭曲度：±15°±1°雙向d=86 mm
3.正反向各15°，總扭曲角度30°
4.測試周期：1~9999次
5.測試速度：彎曲扭曲30r/min及0.5hz
6.長邊大位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm)
7.長邊小位移量為2mm±0.50mm
8.短邊大位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm)
9.長邊小位移量為1mm±0.50mm
10.電壓：ac220v±5%
11.外形尺寸：l670 x w380 x h220
12.功率：35w
13.儀器重量：70kg
根據客戶要求訂制：雙向扭轉大工位數：10工位